Institut für Physikalische Chemie
Navigation:
(überspringen)
Forschung
Studium
Dienstleistungen
AFM
SLS
DLS
QCM
Rheometrie
DMTA
Oberflächen
Über uns
GDCh
Personen
Internes
Schnellzugriff
Arbeitssicherheit, Brand- und Gesundheitsschutz
Chemikalienkataster
OPAC (Bibliothekskatalog)
elektronische Zeitschriften
Web of Science
Stud.IP
Institut für Physikalische Chemie
>
Dienstleistungen
> AFM
Dienstleistung: Raster-Kraft-Mikroskopie (AFM)
Raster-Kraft-Mikroskopie (AFM)
Abbildung von Oberflächen mit Auflösungen < 1 nm
Untersuchung von Adhäsions- und viskoelastischen Eigenschaften
Nanomechanik
Nanoscope AFM
< Wachstum eines
Insulin-Kristalls
(Bildserie aufgenommen von
I. Reviakine
)
Cantilever-Spitze >
Kontakt
▪
Suche
▪
Sitemap
▪
Datenschutz
▪
Impressum
© TU Clausthal 2024