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Oberflächen

Oberflächenbehandlung und -charakterisierung

  • Ellipsometrie
    • zerstörungsfreie Untersuchung dielektrischer Schichten im Nanometerbereich
    • Bestimmung von Δ und Ψ bzw. ε' und ε" als Funktion der Wellenlänge im Bereich 300..900 nm
  • Kontaktwinkelmessung
  • Schleuderbeschichtung (Spin Coating)