Dienstleistung: Oberflächenbehandlung und -charakterisierung

Oberflächenbehandlung und
-charakterisierung
  • Ellipsometrie
    • zerstörungsfreie Untersuchung dielektrischer Schichten im Nanometerbereich
    • Bestimmung von Δ und Ψ bzw. ε' und ε" als Funktion der Wellenlänge im Bereich 300..900 nm

  • Kontaktwinkelmessung

  • Schleuderbeschichtung (Spin Coating)



Ellipsometer DRE EL X-02C

 

Kontakt  Suche  Sitemap  Data Privacy  Imprint
© TU Clausthal 2018