Dienstleistung: Raster-Kraft-Mikroskopie (AFM)

Raster-Kraft-Mikroskopie (AFM)

  • Abbildung von Oberflächen mit Auflösungen < 1 nm
  • Untersuchung von Adhäsions- und viskoelastischen Eigenschaften
  • Nanomechanik

 


Nanoscope AFM 

 

< Wachstum eines
Insulin-Kristalls
(Bildserie aufgenommen von I. Reviakine)

Cantilever-Spitze >

 

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