Dienstleistung: Raster-Kraft-Mikroskopie (AFM)

Raster-Kraft-Mikroskopie (AFM)
     
  • Abbildung von Oberflächen mit Auflösungen < 1 nm
  • Untersuchung von Adhäsions- und viskoelastischen Eigenschaften
  • Nanomechanik
  •  
 

Nanoscope AFM 
 
< Wachstum eines
Insulin-Kristalls
(Bildserie aufgenommen von I. Reviakine)
Cantilever-Spitze >
 

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